«Синтез проверяющих и диагностических тестов для устройств железнодорожной автоматики, телемеханики и связи»


ПОСТРОЕНИЕ ТЕСТОВ ДЛЯ ОБЪЕКТА ДИАГНОЗА, РЕАЛИЗОВАННОГО НА РЕЛЕ



бет5/9
Дата25.01.2022
өлшемі413,08 Kb.
#114421
түріКурсовая
1   2   3   4   5   6   7   8   9
Байланысты:
Kursovaya OTD Sizov M V

3 ПОСТРОЕНИЕ ТЕСТОВ ДЛЯ ОБЪЕКТА ДИАГНОЗА, РЕАЛИЗОВАННОГО НА РЕЛЕ

3.1 Построение тестов для комбинационной релейно-контактной схемы


Рассмотрим построение проверяющего и диагностических тестов для релейно-контактной схемы, заданной в виде ФАЛ F = {0, 3, 4, 5} a,b,c.

Минимизируем заданную ФАЛ с помощью карты Карно (рис. 3) и построим релейно-контактную схему для функции F = {000, 011, 100, 110}.



Рисунок 3 – Карта Карно

В результате этой операции получаем минимизированную функцию

Комбинационная релейно-контактная схема, соответствующая полученной ФАЛ, представлена на рис. 4. Она содержит три входных реле – А, В, С – и шесть контактов .

Общее число проверок для схемы с m входами равно 2m. Рассмотрим только одиночные неисправности контактов. Для построения тестов релейно-контактной схемы будем использовать ТФН.

Рисунок 4 – Комбинационная релейно-контактная схема

Элементарная проверка для схемы заключается в подаче на ее входы определенного набора значений входных переменных (состояний кнопок SВА, SВВ, SВС) и определении факта наличия проводимости схемы по состоянию реле F.

Общее число проверок для схемы с m входами равно 2m. Следует, 23 = 8 – общее число проверок. На основании построенной ТФН и в соответствии с выражением:

где F – функция исправного объекта;

fi – функция i-го состояния неисправного объекта;

Таблица 4 – Таблица функций неисправности



Входной набор

F

f1

f2

f3

f4

f5

f6

f7

f8

f9

f10

f11

f12



a

b

c




a11

a10

b11

b10

c11

c20

b21

b20

c21

c20

a21

a20

0

0

0

0

1

1

1

1

1

1

1

1

0

1

0

1

1

1

0

0

1

0

0

0

1

0

0

0

0

0

1

0

1

0

2

0

1

0

0

0

0

0

0

1

0

1

0

0

0

0

0

3

0

1

1

1

1

0

1

0

1

0

1

1

1

1

1

1

4

1

0

0

1

1

1

1

1

1

1

1

0

1

1

1

1

5

1

0

1

0

1

1

1

1

1

1

1

0

1

1

1

0

6

1

1

0

1

0

0

0

0

0

0

1

0

0

0

0

0

7

1

1

0

0

1

0

0

0

0

0

1

0

0

0

0

0



Функции неисправностей:

Проверяющая функция:

;

φ1 = 5 v 6 v 7;

;

φ2 = 3 v 5 v 6;

;

φ3 = 1 v 5 v 6;

;

φ 4 = 3 v 5 v 6;

;

φ 5 = 2 v 7;

;

φ 6 = 3 v 5 v 6;

;

φ 7 = 2 v 5 v 7;

;

φ 8 = 0 v 4 v 6;

;

φ 9 = 1 v 5 v 6;

;

φ 10 = 0 v 5 v 6;

;

φ 11 = 1 v 5 v 6;

.

φ 12 = 6.

Проверяющий тест в соответствии с выражением равен:

Tп = φ1* φ 2* … * φ n;

Tп = φ1 ∙ φ2 ∙ φ3 ∙ φ4 ∙ φ5 ∙ φ6 ∙ φ7 ∙ φ8 ∙ φ9 ∙ φ10 ∙ φ11 ∙ φ12

Тп = (5v6v7)∙(3v5v6)∙(1v5v6) ∙(3v5v6) ∙(2v7)∙(3v5v6) ∙(2v5v7)∙ (0v4v6) ∙(1v5v6) ∙

∙ (0v5v6) ∙ (1v5v6) ∙ 6 = (5v6v7) ∙ (3v5v6) ∙ (1v5v6) ∙ (2v5v7) ∙ (0v4v6) ∙ (0v5v6) ∙

∙ (2v7) ∙ 6

Тп = 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 5 ∙ 7 v 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 6 ∙ 7

Проверяющий тест, содержащий 3 минимальных теста:

Tп1 = 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 5 ∙ 7;

Tп2 = 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 6 ∙ 7.

Построение диагностических тестов для комбинационной релейно-контактной схемы.

Согласно выражению

Для каждой пары неисправностей ТФН находим различающую функцию

φ12 = 3v7;

φ13 = 1v7;

φ14 = 3v7;

φ15 = 2v7

φ16 = 3v7;

φ17 = 2v6;

φ18 = 0v4v5v7;

φ19 = 1v7;

φ1,10 = 0v7;

φ1,11 = 1v7

φ1,12 = 5v7.


φ34 = 1v3;

φ35 = 1v2;

φ36 = 1v3;

φ37 = 1v2v6v7;

φ38 = 0v1v4v5;

φ39 = не сущ.;

φ3,10 = 0v1;

φ3,11 = не сущ.;

φ3,12 = 1v5;


φ56 = 2v3;

φ57 = 6v7;

φ58 = 0v2v4v5;

φ59 = 1v2;

φ5,10 = 0v2;

φ5,11 = 1v2;

φ5,12 = 2v5;


φ78 = 0v2v4v5v6v7;

φ79 = 1v2v6v7;

φ7,10 = 0v2v6v7;

φ7,11 = 1v2v6v7;

φ7,12 = 2v5v6v7;
φ89 = 0v1v4v5;

φ8,10 = 4v5;

φ8,11 = 0v1v4v5;

φ8,12 = 0v4;




φ23 = 1v3;

φ24 = не сущ.;

φ25 = 2v3;

φ26 = не сущ.;

φ27 = 2v3v6v7;

φ28 = 0v3v4v5;

φ29 = 1v3;

φ2,10 = 0v3;

φ2,11 = 1v3;

φ2,12 = 3v5;



φ45 = 2v3;

φ46 = не сущ.;

φ47 = 2v3v6v7;

φ48 = 0v3v4v5;

φ49 = 1v3;

φ4,10 = 0v3;

φ4,11 = 1v3;

φ4,12 = 3v5;




φ67 = 2v3v6v7;

φ68= 0v3v4v5;

φ69 = 1v3;

φ6,10 = 0v3;

φ6,11 = 1v3;

φ6,12 = 3v5;



φ9,10 = 0v1;

φ9,11 = не сущ.;

φ9,12 = 1v5;
φ10,11 = 0v1;

φ10,12 = 0v5;


φ11,12 = 1v5.


Построение диагностических тестов для комбинационной релейно-контактной схемы

Диагностический тест для рассматриваемого примера имеет вид

Тд12 φ13 ,…, φ34

Тд = (3v7) ∙ (1v7) ∙ (2v7) ∙ (2v6) ∙ (0v4v5v7) ∙ (0v7) ∙ (5v7) ∙ (1v3) ∙ (2v3v6v7)∙

∙ (0v3v4v5) ∙ (0v3) ∙ (3v5) ∙ (1v2) ∙ (1v2v6v7) ∙ (0v1v4v5) ∙ (0v1) ∙ (1v5) ∙

∙ (6v7) ∙(0v2v4v5) ∙ (0v2) ∙ (2v5) ∙ (0v2v4v5v6v7) ∙ (0v2v6v7) ∙ (2v5v6v7) ∙

∙ (4v5) ∙ (0v4) ∙ (0v5)

Тд = 0 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 5 ∙ 7 v 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 5 ∙ 7 v 0 ∙ 1 ∙ 5 ∙ 6 ∙ 7 v

v 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 4 ∙ 7 v 1∙ 2 ∙ 3 ∙ 4 ∙ 5 ∙ 7 v 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 5 ∙ 6.

Из результатов анализа полученного множества, диагностический тест содержит 10 минимальных тестов:

Тд1 = 0 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 5 ∙ 7; Тд3 = 0 ∙ 1 ∙ 5 ∙ 6 ∙ 7; Тд5 = 1∙ 2 ∙ 3 ∙ 4 ∙ 5 ∙ 7;

Тд2 = 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 5 ∙ 7; Тд4 = 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 4 ∙ 7; Тд6 = 0 ∙ 1 ∙ 2 ∙ 3 ∙ 5 ∙ 6.

Словарь неисправностей, построенный для Тд1, представлен в таблице 2

Таблица 5 - Словарь неисправностей для Тд1



Входной набор

F

f1

f2 f4

f3 f9 f11

f5

f6

f7

f8

f10

f12



a

b

c

a11

a10 b10

b11c21a21

b21

b21

b21

b20

c20

a20

0

0

0

0

1

1

1

1

1

1

1

0

0

1

2

0

1

0

0

0

0

0

1

0

1

0

0

0

3

0

1

1

1

1

0

1

1

0

1

1

1

1

5

1

0

1

0

1

1

1

1

1

1

0

1

0

7

1

1

1

0

1

0

0

0

0

1

0

0

0

Диагностический 2-го вида определяется в том случае, если заранее не известно, что тестируемая схема неисправна. В этом случае диагностический тест Тд' определяется по выражению

Тд' = Тп · φ1,2 · φ1,3·…· φn.

Тд' = 0·1·2·3·5∙7

Словарь неисправности представлен для минимального диагностического теста Тд' приведен в таблица 2.



Таблица 6 - Словарь неисправностей для Тд'

Входной набор

F

f1

f2 f4

f3 f9 f11

f5

f6

f7

f8

f10

f12



a

b

c

a11

a10 b10

b11c21a21

b21

b21

b21

b20

c20

a20

0

0

0

0

1

1

1

1

1

1

1

0

0

1

1

0

0

1

0

0

0

1

0

0

0

0

0

0

2

0

1

0

0

0

0

0

1

0

1

0

0

0

3

0

1

1

1

1

0

1

1

0

1

1

1

1

5

1

0

1

0

1

1

1

1

1

1

0

1

0

7

1

1

1

0

1

0

0

0

0

1

0

0

0

Поиск неисправностей осуществляется следующим образом. На входы схемы последовательно подаются входные наборы, входящие в диагностический тест. Для каждого случая фиксируется значения выхода схемы по состоянию реле F. Полученные результаты сравниваются с данными, приведенными в слове неисправностей (табл. 5 / 6). Совпадение состояний выхода реле и состояний, приведенных в столбце словаря неисправностей, указывает на неисправность или на класс эквивалентных неисправностей, которые соответствуют данному столбцу.


Достарыңызбен бөлісу:
1   2   3   4   5   6   7   8   9




©www.engime.org 2024
әкімшілігінің қараңыз

    Басты бет