«Синтез проверяющих и диагностических тестов для устройств железнодорожной автоматики, телемеханики и связи»


ПОСТРОЕНИЕ ТЕСТОВ ДЛЯ КОМБИНАЦИОННЫХ СХЕМ НА ЛОГИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТАХ



бет7/9
Дата25.01.2022
өлшемі413,08 Kb.
#114421
түріКурсовая
1   2   3   4   5   6   7   8   9
Байланысты:
Kursovaya OTD Sizov M V

4 ПОСТРОЕНИЕ ТЕСТОВ ДЛЯ КОМБИНАЦИОННЫХ СХЕМ НА ЛОГИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТАХ


Логический элемент представляет собой устройство, имеющее n входов и один выход, на котором реализуется некоторая функция алгебры логики (ФАЛ) F(x). Неисправность во внутренней структуре логического элемента приводит к тому, что на его выходе вместо функции F(x) реализуется функция неисправности f(x).

Для логических элементов число и вид неисправности зависит от внутренней структуры элемента. Неисправности логических элементов подразделяются на константные и неконстантные. Константную неисправность можно рассматривать как фиксацию в константу (ноль или единицу) сигнала на входе или выходе элемента. Среди множества константных неисправностей можно выделить эквивалентные и импликантные неисправности.

Эквивалентными неисправностями называются такие неисправности, для которых по состоянию выхода элемента невозможно определить, где конкретно имеет место неисправность – на каком входе или выходе. Эквивалентные неисправности соединены прямыми линиями.

Неисправности комбинационных схем делят на две группы. Неисправность называют правильной, если содержащая ее комбинационная схема остается в классе схем без памяти. Если же в результате внесения неисправности комбинационная схема превращается в схему с памятью, то такую неисправность называют неправильной.

Правильные неисправности подразделяются на константные и не константные. Для константных неисправностей характерно следующее свойство: функция, реализуемая неисправной схемой, может быть получена из функции исправной схемы фиксацией в ноль или единицу ее отдельных букв или входящих в нее сложных выражений. Все неисправности, не удовлетворяющие этому условию, относят к классу не константных неисправностей.

4.1 Вычисление проверяющего теста


Согласно варианту задания, которое представлено в виде ФАЛ,

F = {0, 3, 4, 5} a,b,c. Минимизируем её с помощью карты Карно (рис.6) и записываем в аналитическом виде.



Рисунок 6 – Карта Карно ФАЛ

В схеме реализуется функция

Рассмотрим построение проверяющего теста комбинационной схемы относительно константных неисправностей. Для этого по заданной ФАЛ вычерчиваем схему с указанием всех логических элементов и связей между ними (рис.6). Комбинационная схема реализует функцию



;

Рисунок 7 – Комбинационная схема, реализующая функцию



Составляем ТФН (талб.7), в которую включаем все пронумерованные неисправности. Функции неисправностей рассчитывают такими же методами, которые используются для релейно-контактных схем.

Функции неисправностей:

;

;

;

;

;

;

;

;

;

;

;

;

Таблица 7 – Таблица функций неисправностей



Входной набор

F

f1

f2

f3

f4

f5

f6

f7

f8

f9

f10

f11

f12



a

b

c

a11

a10

b11

b10

c11

c20

b21

b20

c21

c20

a21

a20

0

0

0

0

1

1

1

1

1

1

1

1

0

1

0

1

1

1

0

0

1

0

0

0

1

0

0

0

0

0

1

0

1

0

2

0

1

0

0

0

0

0

0

1

0

1

0

0

0

0

0

3

0

1

1

1

1

0

1

0

1

0

1

1

1

1

1

1

4

1

0

0

1

1

1

1

1

1

1

1

0

1

1

1

1

5

1

0

1

0

1

1

1

1

1

1

1

0

1

1

1

0

6

1

1

0

1

0

0

0

0

0

0

1

0

0

0

0

0

7

1

1

1

0

1

0

0

0

0

0

1

0

0

0

0

0

Вычисляем проверяющие функции в соответствии с выражением:



φ12 = 3v7;

φ 13 = 1v7;

φ 14 = 3v7;

φ 15 = 2v7

φ 16 = 3v7;

φ 17 = 2v6;

φ 18 = 0v4v5v7;

φ 19 = 1v7;

φ 1,10 = 0v7;

φ 1,11 = 1v7

φ 1,12 = 5v7;


φ23 = 1v3;

φ24 = не сущ.;

φ25 = 2v3;

φ26 = не сущ.;

φ27 = 2v3v6v7;

φ28 = 0v3v4v5;

φ29 = 1v3;

φ2,10 = 0v3;

φ2,11 = 1v3;

φ2,12 = 3v5;



φ34 = 1v3;

φ35 = 1v2;

φ36 = 1v3;

φ37 = 1v2v6v7;

φ38 = 0v1v4v5;

φ39 = не сущ.;

φ3,10 = 0v1;

φ3,11 = не сущ.;

φ3,12 = 1v5;



φ45 = 2v3;

φ46 = не сущ.;

φ47 = 2v3v6v7;

φ48 = 0v3v4v5;

φ49 = 1v3;

φ4,10 = 0v3;

φ4,11 = 1v3;

φ4,12 = 3v5;





φ56 = 2v3;

φ57 = 6v7;

φ58 = 0v2v4v5;

φ59 = 1v2;

φ5,10 = 0v2;

φ5,11 = 1v2;

φ5,12 = 2v5;


φ67 = 2v3v6v7;

φ68= 0v3v4v5;

φ69 = 1v3;

φ6,10 = 0v3;

φ6,11 = 1v3;

φ6,12 = 3v5;




φ78 = 0v2v4v5v6v7;

φ79 = 1v2v6v7;

φ7,10 = 0v2v6v7;

φ7,11 = 1v2v6v7;

φ7,12 = 2v5v6v7;
φ89 = 0v1v4v5;

φ8,10 = 4v5;

φ8,11 = 0v1v4v5;

φ8,12 = 0v4;




φ9,10 = 0v1;

φ9,11 = не сущ.;

φ9,12 = 1v5;
φ10,11 = 0v1;

φ10,12 = 0v5;


φ11,12 = 1v5

В соответствии с выражением вычисляется проверяющий тест:

Тп = φ1,2 · φ1,3·…· φn.

Подставляем в выражение

Tп= (5v6v7) ∙(3v5v6)∙(1v5v6) (3v5v6) (2v7) (3v5v6)∙(2v5v7) (0v4v6) (1v5v6)∙

∙(0v5v6) (1v5v6) 6=(5v6v7)∙(3v5v6)∙(1v5v6)∙(2v5v7)∙(0v4v6)∙(0v5v6)∙(2v7) 6= 0∙1∙2∙3∙5∙7 v 0∙1∙2∙3∙6∙7

В результате получаем один минимальный тест Тп1 = 0∙1∙2∙3∙7


4.2 Вычисление диагностического теста


Диагностический тест комбинационных схем рассчитывается аналогичным методом, но при этом не учитывают отношения импликации между неисправностями. На схему наносят только графы эквивалентных неисправностей, которые нумеруют в соответствии с указанным для них правилом. В результате число неисправностей, включаемых в ТФН, увеличивается, так как в данном случае дополнительно в ТФН включаются две неисправности выхода схемы, которым соответствуют функции неисправностей.

Представленным на рисунке неисправностям соответствует таблица функций неисправностей (табл. 8).


Таблица 8 – Таблица функций неисправностей




Входной набор

F


Функция неисправности



a

b

c

f1

f2

f3

f4

f5

f6




0

0

0

0

1

1

1

1

1

1

1




1

0

0

1

0

0

0

1

0

0

0




2

0

1

0

0

0

0

0

0

1

0




3

0

1

1

1

1

0

1

0

1

0




4

1

0

0

1

1

1

1

1

1

1




5

1

0

1

0

1

1

1

1

1

1




6

1

1

0

1

0

0

0

0

0

0




7

1

1

1

0

1

0

0

0

0

0




По данной таблице определяем диагностический тест. Для каждой пары неисправностей вычисляем различающую функцию в соответствии с выражением:

Вычисляем диагностический тест Тд :

Тд= φ1,2 · φ1,3·…· φn.

В результате минимизации полученного выражения получаем

Тд = 1· (6 ∨ 7) · 0 · 3 · (5 ∨ 7) · (4 ∨ 5) ·2.

Полученное выражение содержит два минимальных теста

Тд1 = 012356, Тд2 = 012357.

Для поиска конкретной неисправности в соответствии с полученными выражениями Тд используется словарь неисправностей, который представлен в табл. 9 и табл. 10.

φ12 = 3v7;

φ13 = 1v7;

φ14 = 3v7;

φ15 = 2v7

φ16 = 3v7;

φ17 = 2v6;

φ18 = 0v4v5v7;

φ19 = 1v7;

φ1,10 = 0v7;

φ1,11 = 1v7

φ1,12 = 5v7;

φ1,13 = 1v2v6;

φ1,14 = 0v3v4v5v7;


φ23 = 1v3;

φ24 = не сущ.;

φ25 = 2v3;

φ26 = не сущ.;

φ27 = 2v3v6v7;

φ28 = 0v3v4v5;

φ29 = 1v3;

φ2,10 = 0v3;

φ2,11 = 1v3;

φ2,12 = 3v5;

φ2,13 = 1v2v3v6v7;

φ2,14 = 0v4v5;




φ34 = 1v3;

φ35 = 1v2;

φ36 = 1v3;

φ37 = 1v2v6v7;

φ38 = 0v1v4v5;

φ39 = не сущ.;

φ3,10 = 0v1;

φ3,11 = не сущ.;

φ3,12 = 1v5;

φ3,13 = 2v6v7;

φ3,14 = 0v1v3v4v5;


φ45 = 2v3;

φ46 = не сущ.;

φ47 = 2v3v6v7;

φ48 = 0v3v4v5;

φ49 = 1v3;

φ4,10 = 0v3;

φ4,11 = 1v3;

φ4,12 = 3v5;

φ4,13 = 1v2v3v6v7;

φ4,14 = 0v4v5;




φ56 = 2v3;

φ57 = 6v7;

φ58 = 0v2v4v5;

φ59 = 1v2;

φ5,10 = 0v2;

φ5,11 = 1v2;

φ5,12 = 2v5;

φ5,13 = 1v6v7;

φ5,14 = 0v2v3v4v5;
φ67 = 2v3v6v7;

φ68= 0v3v4v5;

φ69 = 1v3;

φ6,10 = 0v3;

φ6,11 = 1v3;

φ6,12 = 3v5;

φ6,13 = 3v5;

φ6,14 = 3v5;




φ78 = 0v2v4v5v6v7;

φ79 = 1v2v6v7;

φ7,10 = 0v2v6v7;

φ7,11 = 1v2v6v7;

φ7,12 = 2v5v6v7;

φ7,13 = 1;

φ7,14 = 0v2v3v4v5v6v7;
φ89 = 0v1v4v5;

φ8,10 = 4v5;

φ8,11 = 0v1v4v5;

φ8,12 = 0v4;

φ8,13 = 0v1v2v4v5v6v7;

φ8,14 = 3;




φ9,10 = 0v1;

φ9,11 = не сущ.;

φ9,12 = 1v5;
φ10,11 = 0v1;

φ10,12 = 0v5;

φ10,13 = 1v2v5v6v7;

φ10,14 = 0v3v4;


φ11,12 = 1v5;
φ13,14 = 0v1v2v3v4v5v6v7.


Вычисляем диагностический тест:

Тд = φ1,2 · φ1,3·…· φn

Тд =(3v7) · (1v7) · (2v7) · (2v6) · (0v4v5v7) · (0v7) · (5v7) · (1v3) · (2v3v6v7) ·

· (0v3v4v5) · (0v3) · (3v5) · (1v2) · (1v2v6v7) · (0v1v4v5) · (0v1) · (1v5) · (6v7) ·

· (0v2v4v5) · (0v2) · (2v5) · (0v2v4v5v6v7) · (0v2v6v7) · (2v5v6v7) · (4v5) ·

· (0v4)· (0v5) · (1v2v6) · (0v3v4v5v7) · (1v2v3v6v7) · (0v4v5) ·(2v6v7) ·

· (0v1v3v4v5) · (1v6v7) · (0v2v3v4v5) ·1· (0v2v3v4v5v6v7) · (0v1v2v4v5v6v7) · · (1v2v5v6v7) · (0v3v4) · (0v1v2v3v4v5v6v7) = 0·1·2·5·7 v 0·1·5·6·7 v

v 0·1·2·3·4·7 v 1·2·3·4·5·7 v 0·1·2·3·4·6 v 0·1·2·3·5·6 v 1·2·3·4·5·6.

В результате минимизации полученного выражения, можно сделать вывод, что диагностический тест имеет 6 минимальных тестов:

Тд1 = 0·1·2·5·7; Тд3 = 0·1·2·3·4·7; Тд5 = 0·1·2·3·4·6; Тд7 = 1·2·3·4·5·6.

Тд 2 = 0·1·5·6·7; Тд4 = 1·2·3·4·5·7; Тд6 = 0·1·2·3·5·6;

Для поиска конкретной неисправности в соответствии с полученным выражением Тд n используется словарь неисправностей, представленный в таблице 9.



Таблица 9 - Словарь неисправностей Тд1

Входной набор

F

Функция неисправности

f1

f2

f3

f4

f5

f6

f7

f8

f9

f10

f11

f12

f13

f14



a

b

c














































0

0

0

0

1

1

1

1

1

1

1

1

0

1

1

1

1

1

0

1

0

0

1

0

0

0

1

0

0

0

0

0

1

0

0

0

1

0

2

0

1

0

0

0

0

0

0

1

0

1

0

0

0

0

0

1

0

5

1

0

1

0

1

1

1

1

1

1

1

0

1

0

0

0

1

0

7

1

1

0

0

1

0

0

0

0

0

1

0

0

0

0

0

1

0

Второй вариант диагностического теста:

= Tп ∙ φ1,2∙φ1,3∙ … ∙ φn.

=0∙1∙2∙3∙5∙7∙ (0∙1∙2∙5∙7 v 0∙1∙5∙6∙7 v 0∙1∙2∙3∙4∙7 v 1∙2∙3∙4∙5∙7 v 0∙1∙2∙3∙4∙6 v

v 0∙1∙2∙3∙5∙6 v 1∙2∙3∙4∙5∙6)=0∙1∙2∙5∙7 v 0∙1∙5∙6∙7 v 0∙1∙2∙3∙4∙7 v 1∙2∙3∙4∙5∙7 v

v 0∙1∙2∙3∙4∙6 v 0∙1∙2∙3∙5∙6 v 1∙2∙3∙4∙5∙6.

Полученное выражение содержит 1 минимальный тест:



;

Словарь неисправностей для диагностического теста представлен в таблица 10.



Таблица 10 - Словарь неисправностей для Тд'

Входной набор

F

Функция неисправности

f1

f2

f3

f4

f5

f6

f7

f8

f9

f10

f11

f12

f13

f14



a

b

c

0

0

0

0

1

1

1

1

1

1

1

1

0

1

1

1

1

1

0

1

0

0

1

0

0

0

1

0

0

0

0

0

1

0

0

0

1

0

2

0

1

0

0

0

0

0

0

1

0

1

0

0

0

0

0

1

0

5

1

0

1

0

1

1

1

1

1

1

1

0

1

0

0

0

1

0

7

1

1

0

0

1

0

0

0

0

0

1

0

0

0

0

0

1

0




Достарыңызбен бөлісу:
1   2   3   4   5   6   7   8   9




©www.engime.org 2024
әкімшілігінің қараңыз

    Басты бет