а) көп қайталап өлшеу әдісі; nөлшеу санын арттыра отырып, теория жағынан 𝜎Хбағасын (4.3)-ке сәйкес қажетті аз шамаға азайтуға болады;
б) көп арналы өлшеу әдісі (бір физикалық шаманың қатарлас өлшеуін
пайдалану); ол үшін бірден бірнеше ӨҚ-ды пайдалану және бақылау нәтижесін бірлесіп өңдеу қажет.
Өлшеудің жүйелік қателіктерін азайту әдістері: а) өлшеуге дейін жүйелік қателіктер көздерін жою;
б) өлшеуден кейін түзетулер енгізу жолымен жүйелік қателіктерді жою әдістері;
в) дәлірек ӨҚ пайдалану.
ӨҚ дәлдігін арттыру әдістері. Мұнда да жоғарыда қарастырылған өлшеу дәлдігін арттырудың әдістері пайдаланылады:
а) саны көп өлшеулер әдісі; б) көп арналы өлшеу әдісі;
в) ӨҚ статикалық сипаттамасын тұрақтандыруға қолданатын параметрлік тұрақтандыру әдісі (конструкторлық-технологиялық әдіс). Параметрлік тұрақтандыру ӨҚ-ін дәл және тұрақты элементтерден жасау, магнитті және электрлік өрістерден ӨҚ экрандау, термостабилизациялау жолдарымен іске асырылады; бұл әдіс ӨҚ жүйелік және кездейсоқ қателіктерін азайтады;
г) құрылымдық әдістер ӨҚ көмегімен алынған ақпаратты қолдана отырып олардың дәлдігін арттыру мақсатымен ӨҚ құрамына қосымша тораптар, элементтер және шаралар қосуда негізделген.
Тақырып бойынша қосымша мәліметтерді [1-5,8,9] алуға болады.
